X射線近邊吸收譜儀

產(chǎn)品簡(jiǎn)介

X射線近邊吸收譜儀聚焦于材料X射線吸收邊前50~100 eV能量區(qū)間，通過(guò)分析吸收邊形狀、白線強(qiáng)度及前邊共振特征，精準(zhǔn)解析目標(biāo)元素的??化學(xué)價(jià)態(tài)、電子結(jié)構(gòu)及近程配位環(huán)境??。

更新時(shí)間：2025-04-24

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分析測(cè)試儀器

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品牌	創(chuàng)譜specreation	應(yīng)用領(lǐng)域	環(huán)保,化工,生物產(chǎn)業(yè),能源
能量范圍	4.5-20keV	能量分辨率	0.5-1.5eV(7-9keV,近邊)
X射線光源	1.2-1.6kW閉管	光通量	1,000,000-2,000,000photons/sec/eV@9keV
單色器晶體	直徑100mm,球面半徑500mm(Si/Ge))	探測(cè)器	SDD探測(cè)器
自動(dòng)樣品輪	16工位

　　一、工作原理

　　X射線近邊吸收譜儀利用光子的能量與物質(zhì)內(nèi)部電子能級(jí)的差異，通過(guò)測(cè)量X射線在物質(zhì)中被吸收的能量來(lái)分析物質(zhì)的電子結(jié)構(gòu)。在X射線近邊吸收光譜中，每種元素的吸收譜線都具有不同性，這使得我們能夠通過(guò)這種技術(shù)來(lái)準(zhǔn)確鑒定物質(zhì)中元素的種類和數(shù)量。此外，該技術(shù)還能用于研究物質(zhì)的物理和化學(xué)性質(zhì)，如電子結(jié)構(gòu)的變化、化學(xué)鍵的形成和斷裂等。

　　二、工作特點(diǎn)

　　小型化桌面式系統(tǒng)，易于使用：

　　1.支持近邊快掃功能；

　　2.支持原位測(cè)試等擴(kuò)展功能；

　　3.人體工學(xué)高度設(shè)計(jì)，操作更便捷；

　　4.內(nèi)置實(shí)驗(yàn)參數(shù)預(yù)置，實(shí)現(xiàn)快速測(cè)量；

　　5.不同樣品、不同測(cè)量模式一鍵自動(dòng)切換；

　　6.遠(yuǎn)程數(shù)據(jù)傳輸，實(shí)時(shí)顯示實(shí)驗(yàn)進(jìn)程和結(jié)果支持無(wú)人值守測(cè)試；

　　7.專業(yè)的應(yīng)用技術(shù)支持和數(shù)據(jù)分析支持；

　　8.儀器具有輻射豁免資質(zhì)和多重安全防護(hù)聯(lián)鎖，保證人身和使用安全。

　　XAFS專用彎晶：

　　1.不同晶面配置齊全，實(shí)現(xiàn)各個(gè)元素覆蓋；