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X射線吸收精細結構（XAFS）譜儀主要測量元素K/L吸收邊及其附近的吸收率變化，廣泛應用于診斷材料的局域特性，例如核心原子的價態(tài)、 配位數、位形與鍵長。

CT型真空紫外光譜儀具備較高的靈敏度和分辨率，能夠精確測量微弱的光譜信號，揭示物質更細微的結構和性質。其次，該儀器具備較寬的波長覆蓋范圍，可以覆蓋從近紫外到真空紫外區(qū)域的多個波長范圍，滿足各種研究需求。

采用Seya- Namioka光路結構，入射狹縫和CCD探測器位于羅蘭圓上，可以單色模式和光譜模式切用 。

X射線吸收精細結構（XAFS）譜儀X射線吸收光譜測試主要測量元素K/L吸收邊及其附近的吸收率變化，廣泛應用于診斷材料的局域特性，例如核心原子的價態(tài)、 配位數、位形與鍵長。

X射線吸收精細結構（XAFS）譜儀X射線吸收光譜測試主要測量元素K/L吸收邊及其附近的吸收率變化，廣泛應用于診斷材料的局域特性，例如核心原子的價態(tài)、 配位數、位形與鍵長。