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X射線吸收精細結(jié)構(gòu)（XAFS）譜儀X射線吸收光譜測試主要測量元素K/L吸收邊及其附近的吸收率變化，廣泛應(yīng)用于診斷材料的局域特性，例如核心原子的價態(tài)、 配位數(shù)、位形與鍵長。

X射線吸收譜儀是一種利用同步輻射或?qū)嶒炇襒射線源，通過測量材料對X射線的吸收特性來探測其原子尺度局域結(jié)構(gòu)及電子態(tài)的分析儀器。其核心技術(shù)包括X射線近邊吸收譜和擴展邊精細結(jié)構(gòu)，可精準(zhǔn)解析目標(biāo)元素的化學(xué)價態(tài)、配位環(huán)境、鍵長及配位數(shù)等信息。

X射線吸收精細結(jié)構(gòu)（XAFS）譜儀X射線吸收光譜測試主要測量元素K/L吸收邊及其附近的吸收率變化，廣泛應(yīng)用于診斷材料的局域特性，例如核心原子的價態(tài)、 配位數(shù)、位形與鍵長。

臺式X射線吸收譜儀集成了緊湊型高亮度X射線源與高分辨率硅漂移探測器，無需依賴同步輻射裝置，即可在實驗室內(nèi)實現(xiàn)??快速、原位??的原子尺度結(jié)構(gòu)分析。

X射線吸收精細結(jié)構(gòu)（XAFS）譜儀同步輻射X射線吸收近邊結(jié)構(gòu)主要測量元素K/L吸收邊及其附近的吸收率變化，廣泛應(yīng)用于診斷材料的局域特性，例如核心原子的價態(tài)、 配位數(shù)、位形與鍵長。