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分析測試儀器
X射線發(fā)射譜
X射線吸收精細結(jié)構(gòu)(XAFS)譜儀X射線吸收光譜測試主要測量元素K/L吸收邊及其附近的吸收率變化,廣泛應用于診斷材料的局域特性,例如核心原子的價態(tài)、 配位數(shù)、位形與鍵長。
品牌 | 創(chuàng)譜specreation | 應用領域 | 環(huán)保,化工,生物產(chǎn)業(yè),地礦,能源 |
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X射線吸收精細結(jié)構(gòu)(XAFS)譜儀X射線吸收光譜測試,利用常規(guī)X光源實現(xiàn)X射線吸收精細結(jié)構(gòu)(XAFS)的光譜測量,對同步輻射等重大科技基礎設施及電子顯微鏡、X射線衍射儀等科學儀器具有很好的補充和拓展作用。該產(chǎn)品目前已被北京大學、北京航空航天大學、天津大學、華北電力大學、青海大學、安徽大學等眾多高校選購,有效助力相關科學研究和應用開拓!
小型化桌面式系統(tǒng),易于使用:
· 支持近邊快掃功能;
· 支持原位測試等擴展功能;
· 人體工學高度設計,操作更便捷;
· 內(nèi)置實驗參數(shù)預置,實現(xiàn)快速測量;
· 不同樣品、不同測量模式一鍵自動切換;
· 遠程數(shù)據(jù)傳輸,實時顯示實驗進程和結(jié)果支持無人值守測試;
· 專業(yè)的應用技術支持和數(shù)據(jù)分析支持;
· 儀器具有輻射豁免資質(zhì)和多重安全防護聯(lián)鎖,保證人身和使用安全。
XAFS專用彎晶:
· 不同晶面配置齊全,實現(xiàn)各個元素覆蓋;
· 預準直安裝,即插即用;
· 可根據(jù)需要元素定制特殊彎晶,達到最佳性能。
X射線吸收精細結(jié)構(gòu)(XAFS)譜儀X射線吸收光譜測試能量掃描機構(gòu):
· 聯(lián)動掃描機構(gòu);
· 實現(xiàn)光源、彎晶、樣品和探測器的精密聯(lián)動;
· 精度和分辨率高,穩(wěn)定性好。