X射線吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)(XAFS)譜儀主要測(cè)量元素K/L吸收邊及其附近的吸收率變化,廣泛應(yīng)用于診斷材料的局域特性,例如核心原子的價(jià)態(tài)、 配位數(shù)、位形與鍵長(zhǎng)。
查看詳情產(chǎn)品中心
Product Center當(dāng)前位置:首頁(yè)
產(chǎn)品中心
product
產(chǎn)品分類400-8877-750
CT型真空紫外光譜儀具備較高的靈敏度和分辨率,能夠精確測(cè)量微弱的光譜信號(hào),揭示物質(zhì)更細(xì)微的結(jié)構(gòu)和性質(zhì)。其次,該儀器具備較寬的波長(zhǎng)覆蓋范圍,可以覆蓋從近紫外到真空紫外區(qū)域的多個(gè)波長(zhǎng)范圍,滿足各種研究需求...
查看詳情采用Seya- Namioka光路結(jié)構(gòu),入射狹縫和CCD探測(cè)器位于羅蘭圓上,可以單色模式和光譜模式切用 。
查看詳情?分辨平場(chǎng)光譜儀,采?全息凹球?變線距光柵進(jìn)?分光,具有平場(chǎng)特性,便于使??陣CCD記錄光譜。光柵?作在掠?射模式下,衍射效率?,同時(shí)通過(guò)選?不同的光柵型號(hào),可以實(shí)現(xiàn)波?范圍1~30nm的全覆蓋。
查看詳情平場(chǎng)光譜儀,采用全息凹球面變線距光柵進(jìn)行分光,具有平場(chǎng)特性,便于使用面陣CCD記錄光譜。光柵工作在掠入射模式下,衍射效率高,同時(shí)通過(guò)選用不同的光柵型號(hào),可以實(shí)現(xiàn)波長(zhǎng)范圍0.6~200nm的全覆蓋。
查看詳情X射線吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)(XAFS)譜儀X射線吸收光譜測(cè)試主要測(cè)量元素K/L吸收邊及其附近的吸收率變化,廣泛應(yīng)用于診斷材料的局域特性,例如核心原子的價(jià)態(tài)、 配位數(shù)、位形與鍵長(zhǎng)。
查看詳情X射線吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)(XAFS)譜儀X射線吸收光譜測(cè)試主要測(cè)量元素K/L吸收邊及其附近的吸收率變化,廣泛應(yīng)用于診斷材料的局域特性,例如核心原子的價(jià)態(tài)、 配位數(shù)、位形與鍵長(zhǎng)。
查看詳情400-8877-750