臺式X射線吸收譜儀集成了緊湊型高亮度X射線源與高分辨率硅漂移探測器,無需依賴同步輻射裝置,即可在實(shí)驗(yàn)室內(nèi)實(shí)現(xiàn)??快速、原位??的原子尺度結(jié)構(gòu)分析。
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X射線吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)(XAFS)譜儀同步輻射X射線吸收近邊結(jié)構(gòu)主要測量元素K/L吸收邊及其附近的吸收率變化,廣泛應(yīng)用于診斷材料的局域特性,例如核心原子的價(jià)態(tài)、 配位數(shù)、位形與鍵長。
查看詳情擴(kuò)展x射線吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)譜儀主要測量元素K/L吸收邊及其附近的吸收率變化,廣泛應(yīng)用于診斷材料的局域特性,例如核心原子的價(jià)態(tài)、 配位數(shù)、位形與鍵長。
查看詳情X射線精細(xì)結(jié)構(gòu)譜是一種通過分析材料對X射線的吸收邊附近及高能區(qū)的精細(xì)振蕩,揭示目標(biāo)原子局域結(jié)構(gòu)與化學(xué)環(huán)境的高精度表征技術(shù)。其核心分為??X射線近邊吸收譜??和??擴(kuò)展邊精細(xì)結(jié)構(gòu)。
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