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X射線吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)（XAFS）譜儀XANES主要測(cè)量元素K/L吸收邊及其附近的吸收率變化，廣泛應(yīng)用于診斷材料的局域特性，例如核心原子的價(jià)態(tài)、 配位數(shù)、位形與鍵長(zhǎng)。

X射線近邊吸收譜儀聚焦于材料X射線吸收邊前50~100 eV能量區(qū)間，通過分析吸收邊形狀、白線強(qiáng)度及前邊共振特征，精準(zhǔn)解析目標(biāo)元素的??化學(xué)價(jià)態(tài)、電子結(jié)構(gòu)及近程配位環(huán)境??。

配位結(jié)構(gòu)表征是化學(xué)領(lǐng)域中用于描述和定義配位化合物空間結(jié)構(gòu)和特性的重要手段。它涉及對(duì)配位物的空間排列方式、中心原子與配位體之間的相互作用以及整體穩(wěn)定性的詳細(xì)分析。

CT型真空紫外光譜儀 極紫外光源，采?Czerny-Turner光學(xué)結(jié)構(gòu)，可以在空間上將復(fù)?光分成?系列單?光，系統(tǒng)由平?衍射光柵、前后準(zhǔn)直聚焦鏡及CCD探測(cè)器組成。

CT型真空紫外光譜儀 探測(cè)器研究，采?Czerny-Turner光學(xué)結(jié)構(gòu)，可以在空間上將復(fù)?光分成?系列單?光，系統(tǒng)由平?衍射光柵、前后準(zhǔn)直聚焦鏡及CCD探測(cè)器組成。